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SIC参数器件测试仪华科智源

产品时间:2020-11-02

简要描述:

SIC参数器件测试仪华科智源产品功能模块化设计,根据用户需求匹配功能单元。测试功能单元有DPT(双脉冲测试 Double Pulse Testing,以下简称DPT。包含开通特性、关断特性、反向恢复特性)栅电荷、短路、雪崩、结电容、栅电阻、反偏安全工作区等。测试方案完全符合IEC60747-9国际标准。

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SIC参数器件测试仪华科智源产品特点

 测试系统电压以1500V为一个模块,电流以2000A为一个模块,可扩展至10KA/10KVØ
 内置7颗标准电感负载可选用, 另有外接负载接口,可实现不同电感和电阻负载测试需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)Ø
 另有程控式电感箱可供选择Ø
 针对不同结构的封装外观,通过更换 DUT适配器即可Ø
 可进行室温到200的变温测试,也可实现子单元测试功能Ø
 测试软件具有实验模式和生产模式,测试数据可存储为Excel文件Ø
 门极电阻可任意调整, 系统内部寄生电感为*小至50nHØ
 系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用(24hr 工作)Ø
 安全稳定(PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁)Ø
 系统具有安全工作保护功能,以防止模块高压大电流损坏时对使用者造成伤害,设计符合CE认证Ø
 支持半自动和全自动测试Ø
 采用品牌工控机,具有抗电磁干扰能力强,排风量大等特点Ø
 自动化:单机测试时只需手动放置DUT,也可连接机械选件实现自动化测试线Ø
 智能化,通过主控计算机进行操控及数据编辑,测试结果自动保存及上传指定局域网Ø
Ø轨道级IGBT模块动态参数测试仪具有 安全性,防爆,防触电,防烫伤,短路保护等多重保护措施,确保操作人员、设备、数据及样品安全。

 

 

SIC参数器件测试仪华科智源轨道级IGBT模块动态参数测试仪厂家直供。
产品系列
晶体管图示仪
半导体分立器件测试筛选系统
静态参数测试(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)
动态参数测试(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)
环境老化测试(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)
热特性测试(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

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