更新时间：2020-10-13
半导体参数测试仪器华科智源可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体管，MOS管等器件的 V-I 特性测试，测试600A（可扩展至2000A），5000V以下的各种功率器件，广泛应用于轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机行业的IGBT来料选型和失效分析，设备还可以用于变频器，风电，轨道交通，电焊机等
HUSTEC-1600A-MT
半导体参数测试仪
产品简介 Introducion
HUSTEC-1600A-MT是一款大功率器件参数测试仪，可用于IGBT单管及模块，SIC器件，MOS管，二极管等功率器件的静态参数测试。
产品测试电流电压为1600A,±5000V,向下兼容，可升级到3KA/10KV.
VGE可达±100V；开启电压VGETH支持两种测试方法；
采用插槽式设计结构，便于升级和维护；
设备支持SI基，SIC材料的MOS管，IGBT单管及模块，二极管测试，晶闸管测试，
自动进行分档测试，既覆盖大功率特征下的测试范围，又可保证小功率器件测试精度
支持单点测试，I-V曲线扫描，还具有曲线对比功能；同一规格型号，不同批次的产品曲线对比，同一规格，不同厂家之家的产品曲线对比
开放通讯接口，可以连接探针台做wafer / chip 测试，也可以连接HANDLE,夹具及适配器做模块测试,
测试数据可存储为Excel文件，WORD报告
