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半导体参数测试专用仪器华科智源

产品时间:2020-10-13

简要描述:

半导体参数测试专用仪器华科智源可用于多种封装形式的 IGBT测试,还可以测量大功率二极管 、IGBT模块,大功率 IGBT、大功率双极型晶体管,MOS管等器件的 V-I 特性测试,测试600A(可扩展至2000A),5000V以下的各种功率器件,广泛应用于轨道交通,电动汽车 ,风力发电,变频器,焊机行业的IGBT来料选型和失效分析,设备还可以用于变频器,风电,轨道交通,电焊机等

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HUSTEC-1600A-MT

半导体参数测试仪


     产品简介  Introducion
     HUSTEC-1600A-MT是一款大功率器件参数测试仪,可用于IGBT单管及模块,SIC器件,MOS管,二极管等功率器件的静态参数测试。


产品测试电流电压为1600A,±5000V,向下兼容,可升级到3KA/10KV.
VGE可达±100V;开启电压VGETH支持两种测试方法;
采用插槽式设计结构,便于升级和维护;
设备支持SI基,SIC材料的MOS管,IGBT单管及模块,二极管测试,晶闸管测试,
自动进行分档测试,既覆盖大功率特征下的测试范围,又可保证小功率器件测试精度
支持单点测试,I-V曲线扫描,还具有曲线对比功能;同一规格型号,不同批次的产品曲线对比,同一规格,不同厂家之家的产品曲线对比
开放通讯接口,可以连接探针台做wafer / chip 测试,也可以连接HANDLE,夹具及适配器做模块测试,
测试数据可存储为Excel文件,WORD报告

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