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IGBT动态参数测试系统

产品时间:2020-02-10

简要描述:

IGBT动态参数测试系统该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二极管等)的动态参数测试,以表征器件的动态特性,通过特制测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。

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IGBT动态参数测试系统​是针对IGBT器件的开关性特性以及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过1500A和集电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性的测试。本系统适合各大研究院所做元器件检验,元件进厂检测筛选以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强,通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要,故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程,操作人员不需具备专业计算机编程语言知识,使用简捷方便。   
      系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证各种情况下测试结果的准确可靠。    
      系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。 

IGBT动态参数测试系统测试系统组成部分

1)开通时间测试单元
2)关断时间测试单元
3)二极管反向恢复特性测试单元
4)一套自动恒温气动压力夹具
5)PLC控制系统6)计算机控制系统

环境要求

A.  环境温度:    15~40℃
B. 相对湿度:   小于80%
C.  大气压强:    86Kpa~ 106Kpa
D.  电网电压:    AC220V±10%无严重谐波
E. 电网频率:    50Hz±1Hz2.2  

该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二极管等)的动态参数测试,以表征器件的动态特性,通过特制测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。

 

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