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分立器件测试仪的旋钮介绍
  • 发布日期:2021-08-12      浏览次数:73
    •   分立器件测试仪专为测试大功率半导体分立器件而设计,由计算机操控,具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列,测试数据可存储打印。除具有点测试功能外,还具有曲线扫描功能。系统软件功能全、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率低。
        分立器件测试仪的旋钮介绍:
        1.“功耗限制电阻”旋钮
        “功耗限制电阻”相当于晶体管放大器中的集电极电阻,它串联在被测晶体管的集电极与集电极扫描电压源之间,用来调节流过晶体管的电流,从而限制被测管的功耗。测试功率管时,一般选该电阻值为1kΩ。
        2.“基极阶梯信号”旋钮
        此旋钮给基极加上周期性变化的电流信号。每两级阶梯信号之间的差值大小由“阶梯选择毫安/级”来选择。为方便起见,一般选10μA。每个周期中阶梯信号的阶梯数由“级族”来选择,阶梯信号每簇的级数,实际上就是在图示仪上所能显示的输出特性曲线的根数。阶梯信号每级的毫安值的大小,就反映了图示仪上所显示的输出特性曲线的疏密程度。
        分立器件测试仪广泛应用于半导体分立器件封装测试,制造企业的半导体器件分立来料检验,半导体失效分析实验,高等院校和研究所教学科研等。
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