分立器件测试仪专为测试大功率半导体分立器件而设计，由计算机操控，具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列，测试数据可存储打印。除具有点测试功能外，还具有曲线扫描功能。系统软件功能全、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率低。

　　分立器件测试仪的旋钮介绍：

　　1.“功耗限制电阻”旋钮

　　“功耗限制电阻”相当于晶体管放大器中的集电极电阻，它串联在被测晶体管的集电极与集电极扫描电压源之间，用来调节流过晶体管的电流，从而限制被测管的功耗。测试功率管时，一般选该电阻值为1kΩ。

　　2.“基极阶梯信号”旋钮

　　此旋钮给基极加上周期性变化的电流信号。每两级阶梯信号之间的差值大小由“阶梯选择毫安/级”来选择。为方便起见，一般选10μA。每个周期中阶梯信号的阶梯数由“级族”来选择，阶梯信号每簇的级数，实际上就是在图示仪上所能显示的输出特性曲线的根数。阶梯信号每级的毫安值的大小，就反映了图示仪上所显示的输出特性曲线的疏密程度。

　　分立器件测试仪广泛应用于半导体分立器件封装测试，制造企业的半导体器件分立来料检验，半导体失效分析实验，高等院校和研究所教学科研等。