功率半导体参数测试仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器，可准确执行电流-电压（IV）和电容测量（CV（电容-电压）、C-f（电容-频率）以及 C–t（电容-时间）测量），并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体参数测试。

　　集成直流测试，脉冲测试，瞬态测试，电容测试和低频噪声测试于单台仪器中，无需换线和重新探针即可完成全部低频参数化表征。相比传统半导体参数测试系统其测试速度可高达10倍，在强大速度提升的同时仍保持测试精度。

　　采用模块化架构，在保持紧凑机身的同时又可依照需求扩展，并且支持多通道并行测试，轻松应对高密度生产测试。拥有直观的用户图形界面，仅需点击几下鼠标就可以完成强大的测试分析功能，同时可以支持多种探针台和矩阵开关等设备，轻松完成晶圆级数据的自动测试任务，更针对半导体制造提供了完善的解决方案。

　　特别对二维材料器件，光电探测器的测试应用，1/f噪声作为器件的本征重要参数之一，1/f噪声性能制约着器件的实际应用能力，1/f噪声广泛地存在于各种组分和结构的半导体器件中，同时又反映材料和器件的许多潜在缺点，因此1/f噪声的测量和分析成为评估半导体器件质量表征和可靠性的一种新手段。

　　功率半导体参数测试仪适用于要操作各种设备和技术的生产和实验室环境，可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。