在国内，IGBT芯片工艺还处于前期研发阶段，主要还是依靠进口芯片进行模块封装，国内仅有少数厂家对IGBT动态测试设备进行研制，但未形成产业化。对IGBT模块的测试，有助于评估IGBT芯片的性能，这对于保证IGBT与整个装置的长期安全可靠运行起到重要的作用。

　　IGBT动态参数测试仪采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试结果的准确可靠。提供与机械手、探针台、电脑的连接接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备计算机编程语言知识，使用简捷方便。

　　测试系统组成部分：

　　1、开通时间测试单元

　　2、关断时间测试单元

　　3、二极管反向恢复特性测试单元

　　4、一套自动恒温气动压力夹具

　　5、PLC控制系统

　　IGBT动态参数测试仪可测试IGBT、SiC等开通、关断、短路、栅极电荷以及二极管反向恢复各项动态参数，兼容单管、半桥、四单元、六单元、PIM等绝大多数封装的IGBT模块及DBC。这款半自动化测试设备，自动进出料，可按用户需求定制更高电压电流规格。