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IGBT动态参数测试仪的组成部分
  • 发布日期:2022-08-28      浏览次数:43
    •   在国内,IGBT芯片工艺还处于前期研发阶段,主要还是依靠进口芯片进行模块封装,国内仅有少数厂家对IGBT动态测试设备进行研制,但未形成产业化。对IGBT模块的测试,有助于评估IGBT芯片的性能,这对于保证IGBT与整个装置的长期安全可靠运行起到重要的作用。
        IGBT动态参数测试仪采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证各种情况下测试结果的准确可靠。提供与机械手、探针台、电脑的连接接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。系统可扩展性强,通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要,故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程,操作人员不需具备计算机编程语言知识,使用简捷方便。
        测试系统组成部分:
        1、开通时间测试单元
        2、关断时间测试单元
        3、二极管反向恢复特性测试单元
        4、一套自动恒温气动压力夹具
        5、PLC控制系统
        IGBT动态参数测试仪可测试IGBT、SiC等开通、关断、短路、栅极电荷以及二极管反向恢复各项动态参数,兼容单管、半桥、四单元、六单元、PIM等绝大多数封装的IGBT模块及DBC。这款半自动化测试设备,自动进出料,可按用户需求定制更高电压电流规格。
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